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Dexela2923数字射线平板探测器

更新时间:2020-02-29

访问次数:701

生产地址:美国

厂商性质:代理商

产品简介:
Dexela2923数字射线平板探测器
为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量,请升级到1207N Varex Imaging CMOS(互补金属氧化物半导体)X射线平板探测器。
1207N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速,低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术,并提供了一系列闪烁器和接口选项。
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这
品牌其他品牌应用领域医疗卫生,能源,冶金,航天,汽车

Dexela2923数字射线平板探测器

为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量,请升级到1207N Varex Imaging CMOS(互补金属氧化物半导体)X射线平板探测器。

1207N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速,低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术,并提供了一系列闪烁器和接口选项。

CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。

1207N平板探测器的功能和优点包括:

  • 74.8μm像素间距
  • 1536 x 864像素
  • 高灵敏度和高动态范围模式
  • 高工作电压160 kV
  • 适用于高达191 fps的实时成像
  • 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
  • 高DQE
  • 各种闪烁器选项
  • X射线发生器同步的输入/输出
  • Camera Link或GigE Vision数据连接

1512N

为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量,请升级到1512N Varex Imaging CMOS(互补金属氧化物半导体)平板探测器。

1512N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速,低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术,并提供了一系列闪烁器和接口选项。

CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。

1512N平板探测器的功能和优点包括:

  • 74.8μm像素间距
  • 1944 x 1536像素
  • 高灵敏度和高动态范围模式
  • 高225 kV的操作
  • 适用于高达86 fps的实时成像
  • 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
  • 高DQE
  • 各种闪烁器选项
  • X射线发生器同步的输入/输出
  • Camera Link或GigE Vision数据连接

2315N

CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。

2315N平板探测器的功能和优点包括:

  • 74.8μm像素间距
  • 3072 x 1944像素
  • 高灵敏度和高动态范围模式
  • 高工作电压160 kV
  • 适用于高达191 fps的实时成像
  • 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
  • 高DQE
  • 各种闪烁器选项
  • X射线发生器同步的输入/输出
  • Camera Link或GigE Vision数据连接

Dexela2923数字射线平板探测器

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