新闻中心您的位置:网站首页 >新闻中心 >万睿视VAREX射线平板探测器的成像系统说明

万睿视VAREX射线平板探测器的成像系统说明

更新时间:2023-03-13   点击次数:376次
   万睿视VAREX射线平板探测器在工业和安全应用中具有的图像质量,Varex Imaging基于非晶硅的探测器是工业和安全应用中射线照相的基准。可降低射线剂量,帮助正确诊断。应用技术稳定性得到大幅提高,并且通过电路技术可以实现低噪声、高画质的表现。
  万睿视VAREX射线平板探测器的产品特点如下:
  1.元器件和传感器全屏蔽保护,因此不会因辐照而老化;
  2.稳定的图像质量和超长的使用寿命;
  3.高动态范围;
  4.无像素缺陷,因为每个像素点都是由数个独立的像素点组成的;
  5.几乎可忽略的图像延迟(小于0.1%);
  6.图像读取在被测物体运动时进行;
  7.模块化设计,是理想的无损检测探测器。
  万睿视VAREX射线平板探测器的成像检测系统由X射线源、被检测工件、平板探测器成像系统和计算机系统等组成。其中的X射线源是用于产生一定能量的X射线穿透工件,X射线在工件内部被吸收而产生强度上的差异,从而传递工件内部的缺陷、形状等信息到达平板探测器。
  X射线源焦点尺寸越小,则得到的图像清晰度就越高。为得到质量较高的图像,在X射线检测中应尽量选用焦点尺寸较小的X射线源,但在实际的工业探伤中,由于工件的厚度较大,就要求X射线有一定的功率以穿透被测工件,因而目前工业所用的X射线源焦点直径通常在1.0mm以上。